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描述:表面檢測設(shè)備 朝日測器 STAGEA-ASE使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準和驗證切割樣品的表面缺陷的評估和檢查。
標題:表面檢測設(shè)備 朝日測器 STAGEA-ASE
產(chǎn)品概述
表面檢測設(shè)備 朝日測器 STAGEA-ASE
表面檢測設(shè)備 朝日測器 STAGEA-ASE
產(chǎn)品介紹:
使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準和驗證切割樣品的表面缺陷的評估和檢查。
它可以作為離線表面缺陷校準的專家設(shè)備,這對于質(zhì)量評估至關(guān)重要。
該設(shè)備是必須由用戶安裝和連接的設(shè)備。只需
將檢測設(shè)備和 PC 放置在水平桌面上,并
用兩根電纜連接檢測設(shè)備和 PC 即可完成安裝。
采用光轉(zhuǎn)換相機鏈路延長器方法,可以使用單根光纖連接探測器和信號處理。
配備數(shù)字高性能計算單元,還可以檢測僅限于目視檢查的缺陷。
二維數(shù)字計算功能提供目視檢查的檢查能力。
這是將超高速攝像機、根據(jù)檢查對象的專用照明、高速數(shù)字運算芯片、計算機等技術(shù)系統(tǒng)化而開發(fā)的高精度、高速檢查系統(tǒng)。
掃描切割樣品并檢測缺陷。 測試結(jié)果可以在下面的四個屏幕上確認。
您可以使用與測試時相同的屏幕配置來檢查過去測試的數(shù)據(jù)。
您可以從過去的測試結(jié)果中選擇任何數(shù)據(jù),并將其以 CSV 格式保存到 USB 存儲器。
您可以在與測試時相同的四個屏幕上檢查過去的測試結(jié)果。
可以調(diào)出缺陷圖像的濃度測量屏幕。
在密度測量屏幕上,您可以分析缺陷的灰度等級和尺寸。
最多可注冊100個品種。
可以為每種產(chǎn)品類型注冊檢測靈敏度和尺寸等各種設(shè)置。 開始檢查時,只需選擇注冊的產(chǎn)品類型,就會設(shè)置適當?shù)臋z查條件。
*啟動設(shè)備時,每個屏幕上顯示的語言可以從日語、韓語和英語中選擇。
可以使用波形監(jiān)視器功能來調(diào)整檢測器(攝像機/發(fā)射器)。
解決 | 寬度方向10μm×長度方向10μm |
---|---|
相機 | C-MOS線傳感器相機(單色)16384像素/680MHz |
泛光燈 | LED線照明(從下面選擇) ?ALTIS-RP(反射/透射) ?ALTIS-R(反射) ?ALTIS-P(透射) |
樣本量 | 尺寸:210mm x 297mm(A4 尺寸) 厚度:0.05mm ~ 最大 1.0mm |
檢測判斷 | 明/暗漸變、寬度/長度/面積 |
移動速度 | 工作臺移動速度 6 m/min。 |
檢驗時間 | 約15秒(每張) |
檢驗范圍 | 拍攝范圍:160 mm x 230 mm *請聯(lián)系我們了解檢查尺寸(定制設(shè)計) |
電源 | AC100~220V 50/60Hz |
個人電腦 | CPU:Intel Core i7 3.4GHz |
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